Back to Top

Vous êtes ici

SAM VUE 250-P

Semiconductor Package Failure Analysis
voids · disbonds · cracks · delamination · internal defects
 

The SCANNING ACOUSTIC MICROSCOPY VUE 250-P is the most compact model scanner from OKOS designed with advanced instrumentation and software to meet Failure Analysis lab requirements.

The Vue 250-P offers many features and benefits such as high clarity & contrast images, unlimited web-based support, and unlimited remote training. Customizable options include: Windows 10 operating system (32 or 64 bit), a variety of ultrasonic immersion transducers, through transmission capability, specialized remote pulsers, and a second digital pulser-receiver channel.

Nous vous informons que nous utilisons des cookies pour vous offrir une expérience agréable sur notre site Internet. Vous acceptez cela en cliquant ici sur "Accepter". Vous trouverez plus d'informations à ce sujet dans notre protection des données.