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Fehleranalyse kompakt vermittelt in Theorie und Praxis – Workshop am 30.11.2017

Fehleranalyse kompakt vermittelt in Theorie und Praxis – Workshop am 30.11.2017 bei der John P. Kummer GmbH

Vielfältige Anwendungen in der Halbleiterindustrie und Mikroelektronik, gepaart mit einem spezifischen Anforderungsprofil an Laborinfrastruktur, Budget und Erfahrung, erfordern individuelle Fehleranalysemethoden. Im Schwerpunkt werden das Dekapsulieren, die zerstörungsfreie Ultraschallmikroskopie (SAM) und das Cleaving (Wafer brechen) behandelt.

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